AARTS DC-HTOL
Accel-RF
- Training Overview: Accel-RF Reliability Testing Systems
DC 自動加速信頼性テスト ステーション (AARTS) システムはチャネル密度を最大化するように設計されています。Accel-RF が開発した最初のシステムは RF および DC 刺激用でしたが、一部のアプリケーションでは RF コンポーネントは必要ありません。多数のデバイス (3 ベイ システムで最大 96 個) を、幅広い温度範囲で独立したバイアス電源を使用して同時に実行できます。このターンキー テスト システムは、業界標準のLifeTestソフトウェアによって完全に自動化されたテストを実行できます。
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製品紹介
特徴
・さまざまなチャネル容量構成（12～96が標準）
・革新的な固定具設計により、24種類以上の市販パッケージをサポートしながら、広い温度範囲でRFデバイスに適切なインピーダンスを提供します。
・小型デバイス（GaAs HBT、SiGe）向けの高解像度/低電力電源から、高電力 RF デバイス（GaN、LDMOS）向けのチャネルあたり 400W まで、さまざまな DC バイアス電源オプション
・半導体パラメータアナライザなどの外部特性評価機器の統合をサポート
オプションとアクセサリ
・チャネル容量
12、24、36、48、60、72、96
・デバイスの温度と冷却オプション
ベースプレート最高温度300°C
・バイアス用品
高い測定分解能を実現するチャンネルあたり10W
チャンネルあたり60W（標準）
・半導体パラメータアナライザ（SPA）の統合
・被試験デバイスの入出力回路
カスタムインピーダンスマッチング回路
ワイドバンドバイアスティー
50Ω MMIC回路