AARTS RF-HTOL
Accel-RF
- Training Overview: Accel-RF Reliability Testing Systems
RF 自動加速信頼性テスト ステーション (AARTS) システムは信頼性とパフォーマンスの低下を評価するために、RF、DC、および熱刺激でデバイスにストレスをかけるように設計されています。このシステムは最初から RF 刺激を含めるように設計されており、後から追加されたものではありません。このターンキー テスト システムには、独立して制御される多数のテスト位置を制御するために使用される完全に統合されたソフトウェアとハードウェアが含まれています。業界標準のLifeTestソフトウェアを使用すると、テスト デバイスの正確な測定と監視を完全に自動化できます。さまざまな周波数範囲、電力レベル、および変調タイプがサポートされています。
DOWNLOAD
製品紹介
特徴
・2ベイラックで最大16の独立制御チャンネルを含む、さまざまなチャンネル容量をサポート
・革新的なテストフィクスチャを採用し、最大 mmWave 周波数と最大 300°C のデバイスベースプレート温度で動作し、24 種類を超える市販のパッケージタイプをサポートします。
・高い RF 駆動レベル能力 (チャネルあたり最大 50W)
・小型デバイス（GaAs HBT、SiGe）向けの高解像度/低電力電源から、高電力 RF デバイス（GaN、LDMOS）向けのチャネルあたり 400W まで、さまざまな DC バイアス電源オプション
・アプリケーション固有のテスト用にさまざまな変調タイプをサポート（パルスDC/RF、WCDMA）
・半導体パラメータアナライザなどの外部特性評価機器の統合をサポート
オプションとアクセサリ
・8チャンネルおよび16チャンネルの標準容量
・周波数帯域オプション
500MHz～3GHz
1GHz～4GHz
1GHz～12GHz
2GHz～18GHz
26GHz～40GHz
その他のmmWaveバンドもサポート
・ソリッドステートパワーアンプ（SSPA）オプション
1W～50WのRF駆動レベル
・デバイスの温度と冷却オプション
高出力デバイステスト用150°C
ベースプレート最高温度300°C
・バイアス用品
高い測定分解能を実現するチャンネルあたり10W
チャンネルあたり60W（標準）
チャンネルあたり200W
チャンネルあたり400W
・統合パルス生成
DCバイアスパルス
RFパルス
・半導体パラメータアナライザ（SPA）の統合
・被試験デバイスの入出力回路
カスタムインピーダンスマッチング回路
ワイドバンドバイアスティー
50Ω MMIC回路