自動加速信頼性試験装置 AARTS
Accel-RF
RF自動信頼性試験装置（AARTS:Automated Accelerated Reliability Test Set）は完全に統合され、自動化されたこのシステムは、化合物半導体デバイスの平均寿命を予測するために、時間経過においてRFとDCの性能劣化を決定する際の柔軟性と精度を提供します。
AARTS(Automated Accelerated Reliability Test Set）は、RF、DC、および熱刺激によってデバイスにストレスを与えるように設計されています。
システムは当初よりRF刺激を含むように設計されました。
したがって、ソフトウェアとハードウェアは完全に統合され、フル機能をサポートします。
テスト中の各デバイス（DUT）は、3つの刺激パラメータすべてを独立して制御します。
コンピュータはすべての入出力電力を測定し、DUTの表面温度を把握しているため（Θjc定数、またはΔTを総消費電力とデバイス表面温度に適合させる多項式から）表面温度差を計算することができます。
DOWNLOAD
製品紹介
特徴
・チャンネル毎に”RF+DC+Temp.”の様々な試験条件が設定できます。
・オートシーケンス機能により任意条件で、各種試験を自動で実行できます。
・パルスでのライフテスト、SPAおよびGain Compression測定ができます。
・各試験方法に準拠（JEDEC Pub JEP118, JPL Pub #96-25, MIL-HDBK-217F）。
・ドッキングステーションにより1chでの測定ができます。