お役立ち情報
オシロスコープ 分析ツール 発表 (Pico Technology)
2017/08/24
複雑な機器の特性と性能の検証に役立つ波形分析＆検索機能
2017年8月1日 - PCオシロスコープとデータロガーの分野で業界をリードするPico Technologyは本日、分析ツールDeepMeasureを発表しました。PicoScope 3000、4000、5000、および6000シリーズのオシロスコープに標準装備されるDeepMeasureは、最大連続100万サイクルの連続波形サイクルで波形パラメーターの自動測定を実現します。測定結果は、波形ディスプレイを使用して簡単に並べ替え、分析し、相互に関連付けることができます。
電子機器が複雑化しているため、設計エンジニアリングチームは波形データと測定の統計を記録、分析、視覚化するためこれまで以上に優れたツールを求めています。ほぼすべてのデジタルオシロスコープに周波数や期間、上昇/下降時間、デューティサイクル、最高/最低電圧など一般的なパラメーターを自動測定する機能が装備されていますが、大抵の場合、測定範囲はオシロスコープのメモリに取得された1回の波形サイクルに限られています。一緒に取得した後続の波形サイクルは画面に表示されますが、測定結果には含まれません。測定の統計（最高/最低/平均/合計）は複数の取得からの情報を集めて出されるべきです。また、範囲が限られていることで、異常なビットパターンが簡単に見逃され、無視されてしまいます。
PicoScope 3000シリーズ（512 MSamples）や6000 Series（2 GSamples） など大容量の取得メモリが装備されたオシロスコープは、トリガされた各取得においてフルサンプリング速度で何千サイクルもの波形サイクルの波形を取得できます。DeepMeasureにより、メモリに取得されたすべての波形サイクルを含む結果の表が生成されます。ツールの最初のバージョンには、10種類の波形パラメーターが含まれており、百万以上の各パラメーターの結果を収集できます。
取得した結果の表は、パラメーターごとに昇順/降順に並べ変えることができるため、エンジニアリングチームは異常を見つけ、複雑な問題の原因を速やかに特定できます。例えば、Rise Time（上昇回数）と見出しが付いた列をクリックすると、100万の波形サイクルの中から一番速い（もしくは一番遅い）上昇時間を簡単に確認することができます。特定の測定結果をダブルクリックすると、オシロスコープのビューで該当するサイクルがハイライト表示されます。
ヒストグラムや高度なデータの視覚化など、より広範な分析を行う場合は測定結果の表をエクスポートしてExcelやMATLABなどのツールを使用して利用できます。
「実際の試験データの視覚化は、今存在するエンジニアリングに関連する課題の多くを解決する鍵となります」とPico Technologyの試験＆測定部門、事業開発マネージャー、トレバー・スミス は話します。「DeepMeasure は、PicoScopeの大容量メモリが装備されたオシロスコープのメ リットを活用する強力なツールで、シリアルデータ列からレーザーのパルスや素粒子物理学の実験まで、複雑な波形のスピーディーな分析とデバッグ（異常の原因特定・解決）を可能にします。異常を簡単に特定し、オシロスコープで取得された他の事象と相互に関連付けることができます」
